絶縁劣化評価試験器

印加電圧・計測回路を個別搭載

近年、イオンマイグレーションを起因とする集積回路の不具合が急激に注目されるようになった背景には、環境に対する配慮から基板製作工程の脱フロン化や鉛フリー化、さらに基板の多層高密度化・ファインピッチ化が背景にあり、実際に製品品質向上を目的とした材料が起因でマイグレーションが誘引され、予期せぬ故障品が市場に流出した事例もあります。こうした環境下、より正確で信頼性のあるマイグレーションテスターが必要とされているはずですが、現状の規格・既存のテスターによる試験では「データの信頼性」から考えると多くの問題点を含んでいると言えます。IMVは今こそ、マイグレーションテスター「MIGシリーズ」を提唱します。

絶縁劣化評価試験器 製品ラインアップ

ハイサイドマイグレーションテスター(MIG-9000)

ハイサイドマイグレーションテスター(MIG-9000)

ハイサイド測定の基本であるオープンケルビン検知をハイサイド側・リターン側共に全CH標準装備。 測定データの保存にメモリカードを採用。

マイグレーションテスター Van-EE(MIG-87)

マイグレーションテスター Van-EE(MIG-87)

MIG-8600の基本性能をそのまま継承し、チャンネル数を16CHに限定することで「パーソナル&リーズナブル」を実現しました。

マイグレーションテスター(MIG-8600B)

マイグレーションテスター(MIG-8600B)

MIGシリーズの1CH→1電源方式は、安定した電圧を個別に供給し、正常時はもちろんのことマイグレーション発生時にもチャンネル間の影響は皆無です。さらにチャンネル間の切り替えスイッチが介在しないため故障とは無縁です。

マイグレーションテスター(MIG-87C)

マイグレーションテスター(MIG-87C)

最大100μFまでの静電容量を有するプリント基板・各種コンデンサーに発生する絶縁劣化(イオンマイグレーション)を高精度に測定します。

パルス印加ユニット(PMU-100)

パルス印加ユニット(PMU-100)

本製品(パルス印加ユニット)はマイグレーションテスター(MIG)のオプションであり、MIGが定時計測時はDC絶縁計測を実行可能にします。MIGが定時計測から定時計測の間は、パルス(AC)駆動を実現します。

MIG-88

MIG-88

従来の絶縁抵抗(Rx)計測に加え、サンプルの誘電正接(tanδ)の計測も行うことで、従来のRxのみの計測では判らなかった試験中の絶縁劣化の傾向を把握する事を可能とします。

HiP-1000/n

HiP-1000/n

MIGシリーズと同じ測定方式。 IMVの最大の特長である1CH/1電源/1計測回路方式及び二重構造アクティブガードケーブルを採用し、高電圧印加を実現しました。

マイグレーションテスター専用恒温恒湿槽(THC-64/120)

マイグレーションテスター専用恒温恒湿槽(THC-64/120)

マイグレーション試験に悪影響を与えると考えられる「機械振動」を除去し、より高精度なマイグレーション試験を可能にします。